食品機(jī)械設(shè)備網(wǎng)
技術(shù)文章
關(guān)于冷凍干燥機(jī)凍干過(guò)程中測(cè)溫樣品探頭在接觸式測(cè)溫過(guò)程中問(wèn)題的研究
閱讀：76 發(fā)布時(shí)間：2024-9-6（1）接觸式測(cè)溫法只能反映其測(cè)溫元件所處局部位置的溫度狀況，不能代表凍干樣品整體的溫度狀況；
（2）當(dāng)測(cè)溫元件插入凍干樣品內(nèi)部時(shí)，測(cè)溫元件附近的樣品結(jié)構(gòu)就遭受一定的破壞；在樣品預(yù)凍過(guò)程中，熱電偶或熱敏電阻會(huì)起到晶核的作用，在測(cè)溫元件附近冰晶體積相對(duì)較大；
（3）測(cè)溫元件本身或其引線會(huì)對(duì)其附近樣品起加熱作用；欣諭凍干裝有測(cè)溫元件的樣品干燥速度較其它未裝測(cè)溫元件的樣品快；
（4）插入的熱電偶或熱敏電阻測(cè)溫是固定的，無(wú)法測(cè)量移動(dòng)的升華界面溫度，而升華界面溫度是凍干過(guò)程中一個(gè)十分重要的參數(shù)；
（5）有限的測(cè)溫元件只能置入有限的試樣中。在批量生產(chǎn)中，一批樣品往往由眾多試樣組成，有限的幾個(gè)試樣測(cè)得的溫度很難反映整批樣品的溫度狀況；
（6）接觸式測(cè)溫給無(wú)菌操作、自動(dòng)化連續(xù)生產(chǎn)帶來(lái)諸多不便。
